PN EN 60749-18:2005现行
Semiconductor Devices - Mechanical And Climatic Test Methods - Part 18: Ionizing Radiation (total Dose)
出版：Polish Committee for Standardization
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基本信息
标准编号： PN EN 60749-18:2005
发布时间：2005/12/13 0:00:00
标准类别：Standard
出版单位：Polish Committee for Standardization
标准页数：15
标准简介
2005 [13/12/2005]2003 [15/12/2003]
替代本标准的新标准
等同采用的国际标准
IEC 60749-18 : 1.0 - Identical
EN 60749-18 : 2003 - Identical
IEC 60749-18 Ed. 1.0 - Identical
EN 60749-18:2003 - Identical
