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半导体发光二极管芯片测试方法现行

Measurement methods for chips of light emitting diodes

标准号：SJ/T 11399-2009

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基本信息

标准号：SJ/T 11399-2009

发布时间：2009-11-17

实施时间：2010-01-01

首发日期：

出版单位：电子工业出版社查看详情>

起草人：鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华

出版机构：电子工业出版社

标准分类：微波、毫米波二、三极管

ICS分类：光电子学、激光设备

起草单位：中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司

归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究所

发布部门：工业和信息化部

主管部门：工业和信息化部电子工业标准化研究所

标准简介

主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。

替代情况

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引用标准

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采标情况

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