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半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理废止

Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods of voltage regulator

标准号：GB/T 4377-1996

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基本信息

标准号：GB/T 4377-1996

发布时间：1996-07-09

实施时间：1997-01-01

首发日期：1984-05-13

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：张宝华、李龙文、沈琪

作废日期：2018-08-01

出版机构：中国标准出版社

标准分类：半导体集成电路

ICS分类：集成电路、微电子学

提出单位：中华人民共和国电子工业部

起草单位：全国集成电路标委会模拟分会

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：国家技术监督局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准规定了半导体集成电路电压调整器电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端（单端口）器件。

替代情况

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