当前位置： 首页 > 扫描探针显微镜漂移速率测量方法

扫描探针显微镜漂移速率测量方法现行

Measurement methods of drift rate of scanning probe microscope

标准号：GB/T 29190-2012

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

基本信息

标准号：GB/T 29190-2012

发布时间：2012-12-31

实施时间：2013-06-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：黄文浩、陈宇航、李源、傅云霞、褚家如、李家文、牛顿、朱五林、刘一

出版机构：中国标准出版社

标准分类：光学计量

ICS分类：有关光学和光学测量的其他标准

提出单位：中国科学院

起草单位：中国科学技术大学、上海市计量测试技术研究院

归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC279)归口。

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：中国科学院

标准简介

本标准规定了SPM 漂移速率的术语和定义、缩略语、测量步骤、性能参数规格,及基于SPM 扫描图像的漂移速率测量基本方法。本标准适用于0.01nm/s到10nm/s的漂移速率测量。本标准中的漂移测量不适用于图像校正。

标准摘要

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中国科学院提出并归口。
本标准由全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC279)归口。
本标准起草单位:中国科学技术大学、上海市计量测试技术研究院。
本标准主要起草人:黄文浩、陈宇航、李源、傅云霞、褚家如、李家文、牛顿、朱五林、刘一。

标准目录

前言 Ⅰ
引言 Ⅱ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义、缩略语 1
4 测量方法 2
5 要求 2
5.1 仪器要求 2
5.2 环境要求 2
6 测量步骤 2
7 测量报告 3
附录A (规范性附录) 图像相关分析法 4
附录B(规范性附录) 特征点法 7
附录C (规范性附录) 非周期光栅法 9
附录D (资料性附录) 原子光栅法 12
附录E (资料性附录) 测量方法比较 14
参考文献 15

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐认证机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐培训机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

扫描探针显微镜漂移速率测量方法 现行

申请获取原文权限

扫描探针显微镜漂移速率测量方法现行