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集成电路锁定试验现行

Integrated circuits latch-up test

标准号：SJ 20954-2006

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基本信息

标准号：SJ 20954-2006

发布时间：2006-08-07

实施时间：2006-12-30

首发日期：

起草人：

标准分类：微电路综合

ICS分类：集成电路、微电子学

标准简介

本标准规定了集成电路的电流锁定和过压锁定的试验方法。

替代情况

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引用标准

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采标情况

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