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带电粒子半导体探测器测试方法已作废

Test procedures for semiconductor charged particle detectors

标准号：GB/T 5201-1994

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基本信息

标准号：GB/T 5201-1994

发布时间：1994-01-02

实施时间：1995-10-01

首发日期：1985-07-18

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

作废日期：2012-11-01

出版机构：中国标准出版社

标准分类：核仪器与核探测器综合

ICS分类：辐射测量

起草单位：北京核仪器厂

归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会

发布部门：国家技术监督局

主管部门：国防科学技术工业委员会

标准简介

本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。全耗尽金硅面垒型探测器的某些性能测试也应参照本标准执行。

替代情况

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