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表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 现行

Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy—Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

标准号:GB/T 30702-2014

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基本信息

标准号:GB/T 30702-2014
发布时间:2014-06-09
实施时间:2014-12-01
首发日期:
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:吴正龙
出版机构:中国标准出版社
标准分类: 基础标准与通用方法
ICS分类:化学分析
提出单位:全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)
起草单位:北京师范大学分析测试中心
归口单位:全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门:国家标准化管理委员会

标准简介

本标准规定了在俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱均匀材料定量分析中相对灵敏度因子的实验测量和使用指南。

标准摘要

本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准采用翻译法等同采用ISO18118:2004《表面化学分析 俄歇电子能谱和 X射线光电子能谱实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南》。
与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
———GB/T22461—2008 表面化学分析 词汇(ISO18115:2001,IDT);
———GB/T21006—2007 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标线性(ISO21270:2004,IDT)。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准负责起草单位:北京师范大学分析测试中心。
本标准主要起草人:吴正龙。

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