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人造石英晶体位错X射线形貌检测方法已废止

Method for detecting dislocations of synthetic quartz crystal using X-ray topographic technique

标准号：GB 11114-1989

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基本信息

标准号：GB 11114-1989

发布时间：1989-03-22

实施时间：1990-03-01

首发日期：1989-03-31

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：麦振洪、葛培文、刘承钧、张和贞、储希

作废日期：2017-12-15

出版机构：中国标准出版社

标准分类：电子技术专用材料

ICS分类：电子元件综合

起草单位：中国科学院物理研究所和机械电子工业部电子标准化研究所

归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国机械电子工业部

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准规定了观测人造石英晶体的位错、划痕、层错、孪晶、沉淀物和生长条纹等缺陷和估算其位错密度的X射线衍射形貌方法。本标准适用于人造石英晶体及天然石英晶体位错密度等缺陷的检测。

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