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微束分析电子背散射衍射分析方法通则现行

Microbeam analysis—General guide for electron backscatter diffraction analysis

标准号：GB/T 19501-2013

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基本信息

标准号：GB/T 19501-2013

发布时间：2013-07-19

实施时间：2014-03-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：姚雷、田青超、郑芳、顾佳卿、陈家光

出版机构：中国标准出版社

标准分类：基础标准与通用方法

ICS分类：物理化学分析方法

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会( SAC/TC 38)

起草单位：宝钢集团中央研究院

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会( SAC/TC 38)

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国微束分析标准化技术委员会( SAC/TC 38)

标准简介

本标准规定了电子背散射衍射分析方法。本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。

标准摘要

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T19501—2004《电子背散射衍射分析方法通则》。
本标准与GB/T19501—2004相比,主要内容变化如下:
———增加了规范性引用文件(见第2章);
———增加或修改了部分术语,删除晶粒夹角(见第3章);
———增加了分析步骤内容(见第4章);
———增加分析结果发布补充内容(见第5章);
———增加了附录A(资料性附录);
———修改了测量条件(见第4章);
———删除了原标准中试样的制备;
———删除了原标准中分析步骤;
———删除了原标准中测量误差。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准起草单位:宝钢集团中央研究院。
本标准主要起草人:姚雷、田青超、郑芳、顾佳卿、陈家光。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T19501—2004。

替代情况

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引用标准

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本标准相关公告

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采标情况

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