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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法化学稳定性测试方法已作废

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for chemical durability

标准号：GB 5594.6-1985

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基本信息

标准号：GB 5594.6-1985

发布时间：1985-11-27

实施时间：1986-12-01

首发日期：1985-11-27

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：蔡郁辉

作废日期：2016-01-01

出版机构：中国标准出版社

标准分类： >>>>L32

ICS分类： 31.030

提出单位：中华人民共和国电子工业部

起草单位：上海无线电一厂

归口单位：信息产业部（电子）

发布部门：国家标准局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准适用于电子器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍陶瓷材料的化学稳定性测定。

替代情况

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引用标准

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采标情况

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