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半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理现行

General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits

标准号：GB/T 14115-1993

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基本信息

标准号：GB/T 14115-1993

发布时间：1993-01-21

实施时间：1993-08-01

首发日期：1993-01-21

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

出版机构：中国标准出版社

标准分类：半导体集成电路

ICS分类：集成电路、微电子学

起草单位：上海件五厂

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：国家技术监督局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。

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