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石英晶体元件参数的测量第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具现行

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units

标准号：GB/T 22319.8-2008

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基本信息

标准号：GB/T 22319.8-2008

发布时间：2008-08-06

实施时间：2009-01-01

首发日期：2008-08-06

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：章怡、姜连生

出版机构：中国标准出版社

标准分类：石英晶体、压电元件

ICS分类：压电器件和介质器件

提出单位：中华人民共和国信息产业部

起草单位：中国电子件行业协会压电晶体分会

归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

GB/T22319的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具,测量方法采用IEC60444-4:1988和IEC60444-5:1995规定的零相位技术。使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。此外,本部分也适用于IEC61240:1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC60444-1:1986和IEC60444-4:1988。负载电容范围为10pF 或更高。本部分还规定了测量系统和犆L片的校准。本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容犆0、动态电容犆1 和动态电感C1的测量夹具,其频率范围为1 MHz~150 MHz,采用基于IEC604445:1995的自动网络分析仪。

标准摘要

GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分:
---第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法;
---第2部分:测量石英晶体元件动态电路的相位偏置法;
---第3部分:利用有并电容C0补偿的π型网络相位法测量频率达200 MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法;
---第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻犚L 的测量方法及其他导出参数的计算;
---第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法;
---第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量;
---第7部分:石英晶体元件活力和频率降的测量;
---第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具;
---第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量。
本部分为GB/T22319的第8部分。
本部分等同采用IEC60444-8:2003《石英晶体元件参数的测量第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具》(英文版)。
为便于使用,本部分作了下列编辑性修改:
a) 删除国际标准的前言;
b) 删除国际标准的引言;
c) 将本部分的各图集中到正文最后;
d) 将原文6.1第二段中50±5%改为50×(1±5%)Ω。
本部分由中华人民共和国信息产业部提出。
本部分由全国频率控制和选择用压电器件标委会归口。
本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会。
本部分主要起草人:章怡、姜连生。

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