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X射线荧光镀层测厚仪校准规范现行

Calibration Specification for X-Ray Fluorescence Coating Thickness Instruments

标准号：JJF 1306-2011

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基本信息

标准号：JJF 1306-2011

发布时间：2011-09-14

实施时间：2011-12-14

首发日期：

出版单位：中国质检出版社查看详情>

起草人：朱小平、王强兵、李玉花等

出版机构：中国质检出版社

起草单位：中国计量科学研究院、深圳市计量质量检测研究院、江苏天瑞仪器股份有限公司

归口单位：全国几何量长度计量技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

主管部门：全国几何量长度计量技术委员会

标准简介

本规范适用于X射线荧光镀层测厚仪的校准。

标准目录

1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 概述 (1)
4 计量特性 (1)
4.1 厚度测量重复性 (1)
4.2 示值稳定性 (1)
4.3 厚度测量示值误差 (1)
5 校准条件 (2)
5.1 环境条件 (2)
5.2 校准所用标准器及配套设备 (2)
6 校准项目和校准方法 (2)
6.1 校准前准备 (2)
6.2 厚度测量重复性 (2)
6.3 示值稳定性 (2)
6.4 厚度测量示值误差 (3)
7 校准结果表达 (3)
8 复校时间间隔 (3)
附录A 测量结果不确定度评定(示例) (4)
附录B 厚度标准块的技术要求 (7)
附录C 常见典型镀层材料的厚度范围 (9)

替代情况

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引用标准

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采标情况

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