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数显测高仪校准规范现行

Calibration Specification for Height Measuring Instrument with Digital Display

标准号：JJF 1254-2010

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基本信息

标准号：JJF 1254-2010

发布时间：2010-05-11

实施时间：2010-11-11

首发日期：

出版单位：中国质检出版社查看详情>

起草人：匡龙、耿丽红、曹学东等

出版机构：中国质检出版社

起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院

归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

主管部门：全国几何量工程参量计量技术委员会

标准简介

本规范适用于分辨力为0.1μm、0.2μm、0.5μm和1μm，量程为0mm至1000mm的数显测高仪的校准。

标准目录

1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 概述 (1)
4 计量特性 (2)
4.1 测量力 (2)
4.2 垂直度 (2)
4.3 示值变动性 (2)
4.4 示值误差 (2)
5 校准条件 (2)
5.1 环境条件(2)
5.2测量标准器及其他设备(3)
6校准项目和校准方法(3)
6.1测量力(3)
6.2垂直度(3)
6.3示值变动性(4)
6.4示值误差(4)
7校准结果表达(4)
8复校时间间隔(4)
附录A数显测高仪示值误差测量结果不确定度评定(5)
附录B校准证书内容(8)

替代情况

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引用标准

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采标情况

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