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半导体器件集成电路第11部分：第1篇：半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）现行

Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits)

标准号：GB/T 19403.1-2003

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基本信息

标准号：GB/T 19403.1-2003

发布时间：2003-11-24

实施时间：2004-08-01

首发日期：2003-11-24

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：魏华、王静

出版机构：中国标准出版社

标准分类：半导体集成电路

ICS分类：集成电路、微电子学

提出单位：中华人民共和国信息产业部

起草单位：信息产业部第四研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本部分为GB/T19403的一部分，等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1：1992《半导体器件集成电路第11部分：第1节：半导体集成电路内部目检》。

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半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路） 现行

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