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半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法已废止

Thermal resistance measurements of sinks for semiconductor devices under natural air cooling conditions

标准号：SJ 1267-1977

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基本信息

标准号：SJ 1267-1977

发布时间：1977-12-26

实施时间：1978-01-01

首发日期：

起草人：

作废日期：2010-01-20

标准分类：半导体分立器件综合

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