欢迎来到寰标网! 客服QQ:772084082 加入会员

电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 现行

Electromagnetic compatibility - Testing and measurement techniques - Voltage dips,short interruptions and voltage variations immunity tests

标准号:GB/T 17626.11-2008

获取原文 如何获取原文?问客服 获取原文,即可享受本标准状态变更提醒服务!
基本信息

标准号:GB/T 17626.11-2008
发布时间:2008-05-20
实施时间:2009-01-01
首发日期:1999-09-13
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:寿建霞、刑琳、林京平、何爱英、钱晓华、程丽玲
出版机构:中国标准出版社
标准分类: 电磁兼容
ICS分类:抗扰性
提出单位:全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC 246)
起草单位:上海电器科学研究所(集团)有限公司、中国电子科技集团公司第三研究所
归口单位:全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC 246)
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门:国家标准化管理委员会

标准简介

GB/T17626的本部分规定了与低压供电网连接的电气和电子设备对电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验方法和优选的试验等级范围。本部分适用于额定输入电流每相不超过16A 连接到50 Hz或者60Hz交流网络的电气和电子设备。本部分不适用于与400Hz交流网络相连接的电气和电子设备。这些网络的试验将在以后的标准中涉及。本部分的目的是建立一种评价电气和电子设备在经受电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度的通用准则。

标准摘要

GB/T17626《电磁兼容 试验和测量技术》目前包括以下部分:
GB/T17626.1-2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论
GB/T17626.2-2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
GB/T17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验
GB/T17626.4-2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
GB/T17626.5-2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验
GB/T17626.6-2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度
GB/T17626.7-2008 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则
GB/T17626.8-2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验
GB/T17626.9-1998 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验
GB/T17626.10-1998 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验
GB/T17626.11-2008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
GB/T17626.12-1998 电磁兼容 试验和测量技术 振荡波抗扰度试验
GB/T17626.13-2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验
GB/T17626.14-2005 电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验
GB/T17626.16-2007 电磁兼容 试验与测量技术 0Hz~150kHz传导共模骚扰抗扰度试验
GB/T17626.17-2005 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验
GB/T17626.27-2006 电磁兼容 试验和测量技术 三相电压不平衡抗扰度试验
GB/T17626.28-2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频频率变化抗扰度试验
GB/T17626.29-2006 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
本部分为GB/T17626的第11部分。
本部分等同采用国际标准IEC61000-4-11:2004(Ed2.0)。
本部分代替GB/T17626.11-1999《电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验》。
本部分与GB/T17626.11-1999主要差异在于:
---增加了引用文件GB/Z18509-2001 电磁兼容 电磁兼容标准起草导则。
---增加了3条名词术语:3.5剩余电压;3.7校准;3.8校验;
---增加了电压暂降的试验等级,明确了每个试验等级优先采用的持续时间。
---短时中断的持续时间进行了调整。
---附录B的内容改为电磁环境分类。
本部分的附录A 为规范性附录,附录B和附录C 为资料性附录。
本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)提出并归口。
本部分起草单位:上海电器科学研究所(集团)有限公司、中国电子科技集团公司第三研究所。
本部分主要起草人:寿建霞、邢琳、林京平、何爱英、钱晓华、程丽玲。
本部分代替标准的历次版本发布情况:
---GB/T17626.11-1999。

标准目录

前言Ⅲ
1 范围1
2 规范性引用文件1
3 术语和定义1
4 概述2
5 试验等级3
6 试验设备6
7 试验布置8
8 试验程序8
9 试验结果评价9
10 试验报告10
附录A (规范性附录) 试验电路说明11
附录B (资料性附录) 电磁环境分类13
附录C (资料性附录) 试验仪器14
参考文献16

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构
申请入驻

暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~

推荐认证机构
申请入驻

暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~

推荐培训机构
申请入驻

暂未检测到相关机构,邀您申请入驻~