当前位置： 首页 > 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法现行

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for gas-tightness

标准号：GB 5594.1-1985

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

基本信息

标准号：GB 5594.1-1985

发布时间：1985-11-27

实施时间：1986-12-01

首发日期：1985-11-27

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：高陇桥

出版机构：中国标准出版社

标准分类： >>>>L32

ICS分类： 31.030

提出单位：中华人民共和国电子工业部

起草单位：电子工业部12所

归口单位：信息产业部（电子）

发布部门：国家标准局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准适用于电子器件结构陶瓷室温下气密性的测试。

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐认证机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐培训机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 现行