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半导体管特性图示仪校准规范
半导体管特性图示仪校准规范 现行
Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers
标准号：JJF 1236-2010
基本信息
标准号：JJF 1236-2010
发布时间：2010-01-05
实施时间：2010-04-05
首发日期：
出版单位：中国质检出版社查看详情>
起草人：陈连启、于利红、刘冲等
出版机构：中国质检出版社
起草单位：中国电子技术标准化研究所、北京无线电仪器厂、上海新建电子仪器有限公司
归口单位：全国无线电计量技术委员会
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
主管部门：全国无线电计量技术委员会
标准简介
本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪的校准。
标准目录
| 1 范围 (1) 2 引用文献 (1) 3 术语 (1) 4 概述 (1) 5 计量特性 (2) 5.1 校准信号 (2) 5.2 Y轴部分 (2) 5.3 X轴部分 (2) 5.4 阶梯部分 (2) 5.5 集电极功耗限制电阻 (2) 6 校准条件 (3) 6.1 环境条件 (3) 6.2 校准用标准器及其他设备 (3) 7 校准项目及校准方法 (3) 7.1 校准项目 (3) 7.2 校准方法 (4) 8 校准结果的表述 (15) 9 复校时间间隔 (15) 附录A 校准证书的内容 (16) 附录B 测量不确定度评定的实例 (19) |
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