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全岩光片显微组分测定方法

Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks
标准号:SY/T 6414-1999
基本信息
标准号:SY/T 6414-1999
发布时间:1999-05-17
实施时间:1999-12-01
首发日期:
出版单位:石油工业出版社查看详情>
起草人:李佩珍、钟宁宁
作废日期:2015-03-01
出版机构:石油工业出版社
标准分类: 石油地质勘探
ICS分类:石油和天然气的开采与加工
提出单位:中国石油天然气集团公司
起草单位:胜利石油管理局地质科学研究院、石油大学(北京)地球科学系
归口单位:石油地质勘探专业标准化委员会
发布部门:国家石油和化学工业局
主管部门:国家石油和化学工业局
标准简介
本标准规定了在偏反光显微镜下,用反射白光和反射荧光测定全岩光片显微组分体积分数的方法。本标准适用于暗色泥岩、碳酸盐岩和煤光片显微组分的测定。
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