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金属氧化物半导体气敏元件测试方法 现行

Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor

标准号:GB/T 15653-1995

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基本信息

标准号:GB/T 15653-1995
发布时间:1995-07-24
实施时间:1996-04-01
首发日期:1995-07-24
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:
出版机构:中国标准出版社
标准分类: 敏感元器件及传感器
ICS分类:电子元件综合
起草单位:电子工业部标准化研究所
归口单位:信息产业部(电子)
发布部门:国家技术监督局
主管部门:信息产业部(电子)

标准简介

本标准规定了金属氧化物半导体气敏件性能参数测试方法的基本原理,没有规定这些方法在实际使用时的技术细节,测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏件性能参数的测试,其他气敏件亦可参照使用。

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