相控阵天线测试方法 现行
Testing method for phased array antenna
标准号：SJ 20884-2003
基本信息
标准号：SJ 20884-2003
发布时间：2003-12-15
实施时间：2004-03-01
首发日期：
出版单位：工业电子出版社查看详情>
起草人：束咸荣、孙兆军、何炳发
出版机构：工业电子出版社
标准分类：
>>>>FL5800
ICS分类：天线
提出单位：信息产业部电子第四研究所
起草单位：中国电子科技集团公司第十四研究所
归口单位：信息产业部电子第四研究所
发布部门：中华人民共和国信息产业部
标准简介
本标准规定了相控阵天线方向图、增益等的测试原理、测试方法和测试步骤。本标准适用于相控阵天线的测试。
推荐检测机构
申请入驻
暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~
推荐认证机构
申请入驻
暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~
推荐培训机构
申请入驻
暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~
© 2018 北京寰标伟业科技发展有限公司版权所有并保留所有权利。
ICP备案证书号：京ICP备17031081号-1 客服电话：010-62050868
