欢迎来到寰标网！客服QQ：772084082 加入会员

[个人会员] 登录/ 注册我的订单2 购物车我的收藏标准服务

当前位置： 首页 > 通用数字集成电路测试系统检定规程

通用数字集成电路测试系统检定规程现行

Verification Regulation of General Digital Integrated Circuit Testing System

标准号：JJG 1015-2006

获取原文如何获取原文？问客服获取原文，即可享受本标准状态变更提醒服务！

基本信息

标准号：JJG 1015-2006

发布时间：2006-12-08

实施时间：2007-03-08

首发日期：

出版单位：中国计量出版社查看详情>

起草人：陈大为、吴京燕

出版机构：中国计量出版社

标准分类：无线电计量

ICS分类：电学、磁学、电和磁的测量

起草单位：信息产业部工业标准化研究所

归口单位：全国无线电计量技术委员会

发布部门：国家质量监督检验检疫总局

标准简介

本规程适用于数字集成电路测试系统，包括混合集成电路及存贮器测试系统的数字部分的首次检定、后续检定和使用中检验。

替代情况

会员注册/登录后查看详情

引用标准

会员注册/登录后查看详情

本标准相关公告

会员注册/登录后查看详情

采标情况

会员注册/登录后查看详情

推荐检测机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐认证机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~

推荐培训机构

申请入驻

暂未检测到相关机构，邀您申请入驻~