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微束分析分析电镜（ＡＥＭ／ＥＤＳ）纳米薄标样通用规范现行

Microbeam analysis—General guide for the specification of nanometer thin reference materials for analytical transmission electron microscope(AEM/EDS)

标准号：GB/T 18735-2014

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基本信息

标准号：GB/T 18735-2014

发布时间：2014-07-24

实施时间：2015-03-01

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：孙振亚

出版机构：中国标准出版社

标准分类：基础标准与通用方法

ICS分类：物理化学分析方法

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)

起草单位：武汉理工大学

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准简介

本标准规定了分析电镜(AEM/EDS)即透射电子显微镜或装有扫描附件的透射电镜配备 X 射线能谱仪(EDS),测量比例因子 KA-B所用纳米薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。本标准适用于采用分析电镜(AEM/EDS)进行无机薄样品的微区元素定量分析。本标准不包括有机物和生物标样。

替代情况

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引用标准

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