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微束分析电子探针显微分析 (EPMA) 术语现行

Microbeam analysis - Electron Probe Micro Analysis (EPMA) - Vocabulary

标准号：GB/T 21636-2008

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基本信息

标准号：GB/T 21636-2008

发布时间：2008-04-11

实施时间：2008-10-01

首发日期：2008-04-11

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：林卓然、李香庭、李戎、朱衍勇、庄世杰、柳得橹

出版机构：中国标准出版社

标准分类：基础标准与通用方法

ICS分类： 01.040.71;71.040.99

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会

起草单位：全国微束分析标准化技术委员会

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局国家标准化管理委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准简介

本标准定义了电子探针显微分析(EPMA)实践中使用的术语,包括一般概念的术语和按技术等级分类的具体概念的术语。本标准适用于所有有关电子探针显微分析(EPMA)实践的标准化文件,部分适用于相关领域[例如:扫描电子显微镜(SEM),分析电子显微镜(AEM),X射线能谱仪等]的标准化文件,用于定义共用的术语。

标准摘要

本标准等同采用国际标准ISO23833:2006《微束分析电子探针显微分析(EPMA) 术语》(英文版)。
为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:
---5.7.5的注中对ISO23833:2006 勘误将Z>43改为Z>4;
---删除了法文版。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:全国微束分析标准化技术委员会。
本标准主要起草人:林卓然、李香庭、李戎、朱衍勇、庄世杰、柳得橹。

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引用标准

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