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表面化学分析——X射线光电子能谱-荷电控制和荷电校正方法的报告现行

Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction

标准号：GB/T 25185-2010

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基本信息

标准号：GB/T 25185-2010

发布时间：2010-09-26

实施时间：2011-08-01

首发日期：2010-09-26

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：吴正龙

出版机构：中国标准出版社

标准分类：基础标准与通用方法

ICS分类：化学分析

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会

起草单位：北京师范大学分析测试中心

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国微束分析标准化技术委员会

标准简介

本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。

标准摘要

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准等同采用ISO19318:2004《表面化学分析 X射线光电子能谱荷电控制和荷电校正方法的报告》。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准负责起草单位:北京师范大学分析测试中心。
本标准主要起草人:吴正龙。

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