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X射线光电子能谱仪检定方法现行

Verification method for X-ray photoelectron spectrometers

标准号：GB/T 25184-2010

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基本信息

标准号：GB/T 25184-2010

发布时间：2010-09-26

实施时间：2011-08-01

首发日期：2010-09-26

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：王水菊、时海燕、丁训民

出版机构：中国标准出版社

标准分类：基础标准与通用方法

ICS分类：化学分析

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会

起草单位：福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会

标准简介

本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或MgX射线或单色化AlX射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。

标准摘要

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会归口。
本标准负责起草单位:福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室。
本标准主要起草人:王水菊、时海燕、丁训民。

标准目录

前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 符号和缩略语 1
4 方法原理与系统构成 3
5 计量单位与技术指标 4
6 检定环境 5
7 检定项目与方法 5
8 报告检定结果 22
9 检定周期 22

替代情况

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引用标准

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采标情况

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