微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法 现行
Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
标准号：GB/T 34002-2017
基本信息
标准号：GB/T 34002-2017
发布时间：2017-07-12
实施时间：2018-06-01
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：柳得橹、郜欣、权茂华
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 基础标准与通用方法
ICS分类：化学分析
提出单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
起草单位：北京科技大学
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
标准简介
本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或 X 射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。 本标准适用于记录在照相胶片上、或成像板上、或数字相机内置传感
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