
Electrical and electronic products—Determination of six regulated substances(lead,mercury,cadmium,hexavalent chromium,polybrominated biphenyls,polybrominated diphenyl ethers)
标准号:GB/T 26125-2011
基本信息
标准号:GB/T 26125-2011
发布时间:2011-05-12
实施时间:2011-08-01
首发日期:2011-05-12
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:邢卫兵、罗道军、陈建国、何重辉、陈泽勇、刘志红、周明辉、杨李锋、董娟
出版机构:中国标准出版社
标准分类: 电子元件综合
ICS分类:电子元件综合
提出单位:全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会(SAC/TC297)
起草单位:中国电子技术标准化研究所、工业和信息化部电子第五研究所、宁波出入境检验检疫局、江苏出入境检验检疫局、深圳市计量质量检测研究院、深圳出入境检验检疫局、广东出入境检验检疫局、纳优科技(北京)有限公司
归口单位:全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会(SAC/TC 297)
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门:全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会(SAC/TC 297)
标准简介
本标准规定了电子电气产品中铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr(VI)),以及多溴联苯(PBB)和多溴二苯醚(PBDE)两类溴化阻燃剂含量的测定方法。本标准只涉及样品的处理和检测,样品的类别和取样方式由检测机构确定。
标准摘要
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准使用翻译法等同采用IEC62321:2008《电工产品 六种限用物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚)含量的测定》[Electrotechnicalproducts—Determinationoflevelsofsixregulatedsubstances(lead,mercury,cadmium,hexavalentchromium,polybrominatedbiphenyls,polybrominateddiphenylethers)]。 本标准做了下列编辑性修改: ———为了与我国现有标准系列一致,将标准名称改为“电子电气产品 六种限用物质(铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚)的测定”; ———根据国际标准最新制定情况,将原文第1章范围中注1未指明的IEC/PAS文件明确改为IEC/PAS62596:2009,在参考文献中增加一个参考文件为IEC/PAS62596:2009; ———根据国际标准最新制定情况,将原文中注2 中的参考文件IEC/TS62476 修改为IEC/TR62476:2009; ———考虑到方便标准使用者对于标准的理解和使用,增加了对“痕量金属”级的注解。 与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下: ———GB/T6682—2008分析实验室用水规格和试验方法(ISO3696:1987,MOD)。 本标准由全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会(SAC/TC297)提出并归口。 本标准起草单位:中国电子技术标准化研究所、工业和信息化部电子第五研究所、宁波出入境检验检疫局、江苏出入境检验检疫局、深圳市计量质量检测研究院、深圳出入境检验检疫局、广东出入境检验检疫局、纳优科技(北京)有限公司。 本标准主要起草人:邢卫兵、罗道军、陈建国、何重辉、陈泽勇、刘志红、周明辉、杨李锋、董娟。 |
标准目录
前言 Ⅲ 引言 Ⅳ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义、缩略语 1 4 检测方法-概要 4 5 机械样品制备 7 6 X射线荧光光谱法(XRF)筛选 9 7 冷蒸气原子吸收光谱法(CV-AAS)、冷蒸气原子荧光光谱法(CV-AFS)、电感耦合等离子体发射 光谱法(ICP-OES)和电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定聚合物、金属及电子件中的汞 19 8 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)、电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)和原子吸收光谱 法(AAS)测定聚合物中的铅和镉 25 9 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)、电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)和原子吸收光谱 法(AAS)测定金属中的铅和镉 30 10 电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)、电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)和原子吸收光 谱法(AAS)测定电子件中的铅和镉 35 附录A (资料性附录) 气相色谱-质谱联用法(GC-MS)测定聚合物中的多溴联苯和多溴二苯醚 42 附录B(资料性附录) 金属样品的无色和有色防腐镀层中六价铬的测定 56 附录C (资料性附录) 比色法测定聚合物和电子件中的六价铬 60 附录D (资料性附录) X射线荧光光谱法(XRF)筛选的应用指南 67 附录E (资料性附录) 用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中 汞的应用指南 74 附录F(资料性附录) 用ICP-OES、ICP-MS和AAS测定聚合物中铅和镉的应用指南 76 附录G (资料性附录) 用ICP-OES、ICP-MS和AAS测定金属中铅和镉的应用指南 79 附录H (资料性附录) 用ICP-OES、ICP-MS和AAS测定电子件中铅和镉的应用指南 83 参考文献 87 |
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