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电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法现行

Test method for SiO2 in electronic grade water by spectrophotometer

标准号：GB/T 11446.6-2013

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基本信息

标准号：GB/T 11446.6-2013

发布时间：2013-12-31

实施时间：2014-08-15

首发日期：

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：王奕、褚连青、何秀坤、段曙光、提刘旺、刘筠

出版机构：中国标准出版社

标准分类：电子技术专用材料

ICS分类： 31-030

提出单位：中华人民共和国工业和信息化部

起草单位：信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国科学院半导体研究所、中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第四十六研究所

归口单位：中国电子技术标准化研究所

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：中国电子技术标准化研究所

标准简介

本标准规定了电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法。本标准适用于电子级水中二氧化硅的测定，其中检出限为1μg/L。

标准摘要

GB/T11446预计结构如下:
———GB/T11446.1 电子级水;
———GB/T11446.2 (待定);
———GB/T11446.3 电子级水测试方法通则;
———GB/T11446.4 电子级水电阻率的测试方法;
———GB/T11446.5 电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法;
———GB/T11446.6 电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法;
———GB/T11446.7 电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法;
———GB/T11446.8 电子级水中总有机碳的测试方法;
———GB/T11446.9 电子级水中微粒的仪器测试方法;
———GB/T11446.10 电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法。
本部分为GB/T11446的第6部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T11446.6—1997《电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法》。
本部分与GB/T11446.6—1997相比,主要有下列变化:
———将“9干扰因素”修改为“5干扰因素”(见第5章);
———“工作曲线的绘制”中,根据待测水样中二氧化硅含量,明确将工作曲线分为两组(见9.1.1和9.1.2);
———增加了“对水样独立进行两次测定,取其平均值”(见9.3.3)。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究所归口。
本部分起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国科学院半导体研究所、中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第四十六研究所。
本部分主要起草人:王奕、褚连青、何秀坤、段曙光、提刘旺、刘筠。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T11446.6—1989、GB/T11446.6—1997。

替代情况

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引用标准

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采标情况

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