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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法现行

Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for volume resistivity

标准号：GB 5594.5-1985

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基本信息

标准号：GB 5594.5-1985

发布时间：1985-01-01

实施时间：1986-01-02

首发日期：1985-11-27

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：王明珍、赵小伟

出版机构：中国标准出版社

标准分类： >>>>L32

ICS分类： 31.030

提出单位：中华人民共和国电子工业部

起草单位：南京电子管厂

归口单位：信息产业部（电子）

发布部门：信息产业部（电子）

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500°C范围体积电阻率的测定。

替代情况

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引用标准

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采标情况

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