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黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法 现行

Analysis method for gold products with X-ray EDS in SEM

标准号:GB/T 17362-2008

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基本信息

标准号:GB/T 17362-2008
发布时间:2008-09-18
实施时间:2009-05-01
首发日期:1998-05-08
出版单位:中国标准出版社查看详情>
起草人:刘安生、张宜、毛允静
出版机构:中国标准出版社
标准分类: 电化学、热化学、光学式分析仪器
ICS分类:有关化学分析方法的其他标准
提出单位:全国微束分析标准化技术委员会
起草单位:北京有色金属研究总院、核工业总公司北京地质研究院,北京钢铁研究总院
归口单位:全国微束分析标准化技术委员会
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门:国家标准化管理委员会

标准简介

本标准代替GB/T 17362-1998《黄金饰品的扫描电镜X 射线能谱分析方法》和GB/T 17723-1999《黄金制品镀层成分的X 射线能谱测量方法》两个标准。本标准规定了用配置在扫描电镜上的X射线能谱仪对黄金制品化学成分进行无损定量分析的方法和技术要求。本标准与GB/T 17362-1998和GB/T 17723-1999两个标准相比主要修改如下:———将适用范围进行了合并,使其能分别适用于不同含金量的K 金制成的黄金制品和表面有含金镀层的镀金制品的镀层成分的测定这两种情况;———将原来两个标准的相关章节,删去重复的部分,对不同的部分进行整理加工形成新的文本;———删去了GB/T 17723中“术语”这一节;———原标准中“饰品”一律改为“制品”;———本标准不再规定选用的校正程序,操作人员可根据实际分析的试样,自行选择采用;———着重强调测定镀层制品时,工作电压的选择,这是对镀层成分能否测准的关键所在。

标准摘要

本标准代替GB/T17362-1998《黄金饰品的扫描电镜X 射线能谱分析方法》和GB/T17723-1999《黄金制品镀层成分的X 射线能谱测量方法》两个标准。
本标准与GB/T17362-1998和GB/T17723-1999两个标准相比主要修改如下:
---将适用范围进行了合并,使其能分别适用于不同含金量的K 金制成的黄金制品和表面有含金镀层的镀金制品的镀层成分的测定这两种情况;
---将原来两个标准的相关章节,删去重复的部分,对不同的部分进行整理加工形成新的文本;
---删去了GB/T17723中术语这一节;
---原标准中饰品一律改为制品;
---本标准不再规定选用的校正程序,操作人员可根据实际分析的试样,自行选择采用;
---着重强调测定镀层制品时,工作电压的选择,这是对镀层成分能否测准的关键所在。
本标准的附录A 为规范性附录。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。
本标准起草单位:北京有色金属研究总院、核工业总公司北京地质研究院、北京钢铁研究总院。
本标准主要起草人:刘安生、张宜、毛允静。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T17362-1998;
---GB/T17723-1999。

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