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半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法已作废

Method of measurement for reverse break-down voltage of semiconductor photodiodes

标准号：SJ 2214.4-1982

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基本信息

标准号：SJ 2214.4-1982

发布时间：1982-11-30

实施时间：1983-07-01

首发日期：

起草人：

作废日期：2015-10-01

标准分类：技术管理

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