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厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定已作废

Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of resolution

标准号：GB/T 17473.6-1998

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基本信息

标准号：GB/T 17473.6-1998

发布时间：1998-08-19

实施时间：1999-03-01

首发日期：1998-08-19

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

作废日期：2008-09-01

出版机构：中国标准出版社

标准分类：金属工艺性能试验方法

ICS分类：金属材料试验综合

起草单位：昆明贵金属研究所

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

发布部门：国家质量技术监督局

主管部门：中国有色金属工业协会

标准简介

本标准规定了贵金属浆料分辨率的测试方法。本标准适用于贵金属浆料的分辨率测定。非贵金属浆料亦可参照使用。

替代情况

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引用标准

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本标准相关公告

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采标情况

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