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硅片字母数字标志规范
硅片字母数字标志规范 现行
Specification for alphanumeric marking of silicon wafers
标准号：GB/T 34479-2017
基本信息
标准号：GB/T 34479-2017
发布时间：2017-10-14
实施时间：2018-07-01
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：张静、孙燕、边永智、楼春兰
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 半金属与半导体材料综合
ICS分类：半导体材料
提出单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 (SAC/TC 203/SC 2)
起草单位：有研半导体材料有限公司、浙江省硅材料质量检验中心
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 (SAC/TC 203/SC 2)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准简介
本标准规定了硅片或其他半导体晶片上字母数字标志的编码规范，包括标志的形状和尺寸、字母数字代码的定义、要求和字母数字错码检验方法等。该标志及关联信息存入数据库，可被简单的自动光学字符读数（OCR）仪或人工进行独立、快速识别，确保晶片制造商对晶片标记的一致性。 本标准适用于在硅片及其他晶片正面或背面的编码标志。
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