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太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法
太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法 现行
Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells
标准号：GB/T 30859-2014
基本信息
标准号：GB/T 30859-2014
发布时间：2014-07-24
实施时间：2015-04-01
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：薛抗美、夏根平、孙燕、林清香、徐自亮、黄黎
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 金属物理性能试验方法
ICS分类：金属材料试验
提出单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)
起草单位：江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、有研半导体材料股份有限公司
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准简介
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)翘曲度和波纹度的测试方法。本标准适用于硅片翘曲度和波纹度的测试。
标准摘要
|
本标准按照 GB/T1.1—2009 给出的规则起草。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)及材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。 本标准起草单位:江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、有研半导体材料股份有限公司。 本标准主要起草人:薛抗美、夏根平、孙燕、林清香、徐自亮、黄黎。 |
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