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封装引线电阻测试方法现行

Test method for measuring the resistance of package leads

标准号：GB/T 19248-2003

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基本信息

标准号：GB/T 19248-2003

发布时间：2003-07-02

实施时间：2003-10-01

首发日期：2003-07-02

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：陈裕馄、王琪

出版机构：中国标准出版社

标准分类：微电路综合

ICS分类：集成电路、微电子学

提出单位：中华人民共和国信息产业部

起草单位：中国电子技术标准化研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

主管部门：信息产业部（电子）

标准简介

本标准规定了测量封装引线电阻的方法。本标准适用于针栅阵列封装（PGA）引线电阻的测试。该测试技术也适用于其他微电子封装如无引线片式载体（LCC）、四边引线扁平封装（QEP）和陶瓷双列封装（CDIP）等引线电阻的测试。

替代情况

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引用标准

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