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坐标定位测量系统校准规范 现行

Calibration Specification for Measuring System of Coordinate Position

标准号:JJF 1251-2010

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基本信息

标准号:JJF 1251-2010
发布时间:2010-05-11
实施时间:2010-11-11
首发日期:
出版单位:中国质检出版社查看详情>
起草人:赵东升、张恒、夏霄红、孙会庆等
出版机构:中国质检出版社
起草单位:山东省计量科学研究院、中国计量科学研究院等
归口单位:全国几何量工程参量计量技术委员会
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
主管部门:全国几何量工程参量计量技术委员会

标准简介

本规范适用于数控机床坐标定位测量系统的定位精度和重复定位精度的校准,数显设备定位精度的校准也可参照本规范。

标准目录

1 范围 (1)
2 引用文献 (1)
3 术语和定义 (1)
4 概述 (3)
5 计量特性 (3)
6 校准条件 (4)
6.1 环境条件 (4)
6.2 校准设备 (4)
6.3 被校准机床 (4)
7 校准项目和校准方法 (5)
7.1 校准项目 (5)
7.2 校准目标位置的选择 (5)
7.3 校准方法 (6)
8 校准结果的表达 (8)
8.1 轴线行程不大于2000mm 的线性轴线和行程不大于360°的回转轴线 (8)
8.2 轴线行程大于2000mm 的线性轴线 (8)
9 复校时间间隔 (8)
附录A 坐标定位测量系统线性轴线测量结果不确定度评定 (9)
附录B 坐标定位测量系统回转轴线测量结果不确定度评定 (17)
附录C 校准循环方式 (21)
附录D 原始记录参考实例 (22)
附录E 典型校准结果实例(轴线行程长度不大于2000mm) (25)
附录F 校准证书内容 (28)

替代情况

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引用标准

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本标准相关公告

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采标情况

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