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纳米薄膜接触角测量方法
纳米薄膜接触角测量方法 现行
Measurement method for contact angle of nano-film surface
标准号：GB/T 30447-2013
基本信息
标准号：GB/T 30447-2013
发布时间：2013-12-31
实施时间：2014-10-01
首发日期：
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：庞世红、张继军、韩松、戴石锋、徐进、张珩、张庆华、王润梅、王立闯、张平、张丛丛
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 工业技术玻璃
ICS分类：原材料和未加工的玻璃
提出单位：中国科学院
起草单位：中国建筑材料科学研究总院、中国建材检验认证集团股份有限公司、宣城晶瑞新材料有限公司、北京中科赛纳(玻璃)技术有限公司、冶金工业信息标准研究院
归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
标准简介
本标准规定了纳米薄膜接触角测量中涉及的术语、原理、试验设备、环境、样品制备、分析步骤、结果计算和试验报告等。本标准适用于衬底为表面平整的纳米薄膜涂层。
标准摘要
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本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由中国科学院提出。 本标准由全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC279)归口。 本标准主要起草单位:中国建筑材料科学研究总院、中国建材检验认证集团股份有限公司、宣城晶瑞新材料有限公司、北京中科赛纳(玻璃)技术有限公司、冶金工业信息标准研究院。 本标准主要起草人:庞世红、张继军、韩松、戴石锋、徐进、张珩、张庆华、王润梅、王立闯、张平、张丛丛。 |
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