表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 现行
Surface Chemical Analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results
标准号：GB/T 28893-2012
基本信息
标准号：GB/T 28893-2012
发布时间：2012-11-05
实施时间：2013-06-01
首发日期：2012-11-05
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：王水菊、时海燕、岑丹霞、姚文清、刘芬、沈电洪
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 基础标准与通用方法
ICS分类：化学分析
提出单位：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位：厦门爱劳德光电有限公司、厦门大学化学化工学院
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
标准简介
本标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息。提供了峰强度测量方法和所得峰面积的不确定度信息。
标准摘要
|
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准使用翻译法等同采用ISO20903:2006《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱测定峰强度的方法和报告结果所需的信息》 为了方便使用,本标准做了下列编辑性修改: ———用“本标准”代替“本国际标准”。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。 本标准负责起草单位:厦门爱劳德光电有限公司、厦门大学化学化工学院。 本标准起草人:王水菊、时海燕、岑丹霞、姚文清、刘芬、沈电洪。 |
标准目录
| 前言 Ⅰ 引言 Ⅱ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 符号和缩略语 1 5 直接谱的峰强度测定方法 1 5.1 概述 1 5.2 非弹性本底的选择和扣除 2 5.3 峰强度的测量 3 5.3.1 峰高度的测量 3 5.3.2 峰面积的测量 3 5.4 用计算机软件测量峰强度 4 5.5 重叠峰谱图的峰强度测量 4 5.6 峰面积测量的不确定度 4 6 俄歇电子微分谱的峰强度测定方法 5 6.1 概要 5 6.2 俄歇电子微分谱强度的测量 5 6.3 俄歇电子微分谱强度测量的不确定度 6 7 测量峰强度方法的报告 6 7.1 一般要求 6 7.2 测定直接谱峰强度的方法 6 7.2.1 单峰的强度测量 6 7.2.2 拟合峰的强度测量 6 7.3 获得和测定俄歇电子微分谱峰强度的方法 7 7.3.1 获得微分谱的方法 7 7.3.2 测定峰强度的方法 7 附录A (资料性附录) 仪器对测量强度的影响 8 参考文献 9 |
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