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半导体激光器测试方法现行

Test methods of semiconductor lasers

标准号：GB/T 31359-2015

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基本信息

标准号：GB/T 31359-2015

发布时间：2015-02-04

实施时间：2015-08-01

首发日期：

起草人：刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新

标准分类：激光器件

ICS分类：光电子学、激光设备

提出单位：中国机械工业联合会

起草单位：西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所

归口单位：全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)

发布部门：中国标准出版社

主管部门：中国机械工业联合会

标准简介

本标准规定了半导体激光器主要光电参数的测试方法。本标准适用于半导体激光器主要光电参数的测试。半导体激光器组件可参考执行。

标准摘要

本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)归口。
本标准起草单位:西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所。
本标准主要起草人:刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新。

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