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静电复印光导体表面缺陷测量方法
静电复印光导体表面缺陷测量方法 现行
Test method of surface defect for photoconductor of electrostatic copying process
标准号：JB/T 8268-2015
基本信息
标准号：JB/T 8268-2015
发布时间：2015-04-30
实施时间：2015-10-01
首发日期：
出版单位：机械工业出版社查看详情>
起草人：刘慧玲、张希平、王强、刘生应、鲁丽平、陈挺、仇相如、麦洪琦、陈颂昌、鲁俊和
出版机构：机械工业出版社
标准分类： 缩微复印机械
ICS分类：印刷、复制设备
提出单位：中国机械工业联合会
起草单位：天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备（常熟）有限公司等
归口单位：全国复印机械标准化技术委员会（SAC/TC 147）
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
主管部门：全国复印机械标准化技术委员会（SAC/TC 147）
标准简介
本标准规定了静电复印光导体表面缺陷的测量条件、测量方法及测量报告。本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的外观质量及背景印迹的测量。
标准摘要
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本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本标准代替JB/T 8268-1999《静电复印感光体表面缺陷测量方法》，与JB/T 8268-1999相比主要技术变化如下： ——修改了标准名称，感光体改为光导体； ——将适用范围中的感光体改为光导体，删除了硒鼓、硫化镉鼓等已不再使用的感光体，删除了反光镜可参照使用（见第1章，1999年版的第1章）； ——修改了规范性引用文件（见第2章，1999年版的第2章）； ——修改了测量环境条件（见3.1，1999年版的3.1）； ——将有效测量范围放入了测量方法中，删除了测量范围示意图（见4.1.2，1999年版的3.2和图1）； ——增加了测试用样机的要求（见3.2）； ——修改了测量方法的编排格式（见第4章，1999年版的第4章）； ——修改了目视检查的方法（见4.1，1999年版的4.1），删除了目视检查鼓表面示意图（见1999年版的图2）； ——把缺陷版检查改为对比测量，并修改了检查方法（见4.2，1999年版的4.2）； ——修改了背景印迹的测量方法（见4.3，1999年版的4.3）； 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国复印机械标准化技术委员会（SAC/TC 147）归口。 本标准起草单位：天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备（常熟）有限公司、理光图像技术（上海）有限公司深圳分公司、湖北鼎龙化学股份有限公司、柯尼卡美能达（中国）投资有限公司、上海富士施乐有限公司、兄弟（中国）商业有限公司、东芝泰格信息系统（深圳）有限公司、佳能（中国）有限公司。 本标准主要起草人：刘慧玲、张希平、王强、刘生应、鲁丽平、陈挺、仇相如、麦洪琦、陈颂昌、鲁俊和。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： ——JB/T 8268-1995（GB 10996-1989）、JB/T 8268-1999。 |
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