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半导体X射线能谱仪的测试方法已作废

Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

标准号：GB/T 11685-1989

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基本信息

标准号：GB/T 11685-1989

发布时间：1989-10-14

实施时间：1990-05-01

首发日期：

起草人：

作废日期：2004-01-01

标准分类：核仪器与核探测器综合

ICS分类：辐射测量

标准简介

替代情况

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