表面化学分析——二次离子质谱-由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子 现行
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
标准号：GB/T 25186-2010
基本信息
标准号：GB/T 25186-2010
发布时间：2010-09-26
实施时间：2011-08-01
首发日期：2010-09-26
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：马农农、何友琴、何秀坤
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 基础标准与通用方法
ICS分类：化学分析
提出单位：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位：信息产业部专用材料质量监督检验中心
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：全国微束分析标准化技术委员会
标准简介
本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。本标准适用于基体化学成分单一的样品,其中注入物质的峰值原子浓度不超过1%。
标准摘要
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本标准等同采用ISO18114:2003《表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子》。 为了方便使用,本标准做了下列编辑性修改: ———用“本标准”代替“本国际标准”。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。 本标准起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心。 本标准主要起草人:马农农、何友琴、何秀坤。 |
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