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微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定现行

Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness

标准号：GB/T 17473.2-2008

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基本信息

标准号：GB/T 17473.2-2008

发布时间：2008-03-31

实施时间：2008-09-01

首发日期：1998-08-19

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：武新荣、罗云、陈伏生、李文琳、马晓峰、朱武勋、李晋

出版机构：中国标准出版社

标准分类：贵金属及其合金

ICS分类：其他有色金属及其合金

提出单位：中国有色金属工业协会

起草单位：贵研铂业股份有限公司

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：中国有色金属工业协会

标准简介

本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。

标准摘要

本标准是对GB/T17473-1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》(所有部分)的整合修订,分为7个部分:
---GB/T17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定;
---GB/T17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定;
---GB/T17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定;
---GB/T17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测试;
---GB/T17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定;
---GB/T17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定;
---GB/T17473.7-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性测定。
本部分为GB/T17473-2008的第2部分。
本部分代替GB/T17473.2-1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定》。
本部分与GB/T17473.2-1998相比,主要有如下变动:
---将原标准名称修改为:微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定;
---删除了范围中非贵金属浆料亦可参照本标准执行的内容;
---对检测试样不少于5份,每份2g的要求取消,只要求试样充分搅拌均匀。
本部分由中国有色金属工业协会提出。
本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。
本部分由贵研铂业股份有限公司负责起草。
本部分主要起草人:武新荣、罗云、陈伏生、李文琳、马晓峰、朱武勋、李晋。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T17473.2-1998。

替代情况

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引用标准

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本标准相关公告

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采标情况

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