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硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法已作废

The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption

标准号：GB/T 1557-1989

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基本信息

标准号：GB/T 1557-1989

发布时间：1989-03-31

实施时间：1990-02-01

首发日期：1979-05-26

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：

作废日期：2006-11-01

出版机构：中国标准出版社

标准分类：金属物理性能试验方法

ICS分类： 77.040.30;

起草单位：上海冶金研究所

归口单位：中国有色金属工业协会

发布部门：国家技术监督局

主管部门：中国有色金属工业协会

标准简介

本标准规定了用红外吸收测定硅晶体中间隙氧含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1Ω·cm的硅晶体中氧含量的测量。

替代情况

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引用标准

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采标情况

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