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薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法现行

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

标准号：GB/T 20724-2006

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基本信息

标准号：GB/T 20724-2006

发布时间：2007-03-26

实施时间：2007-08-01

首发日期：2006-12-25

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：柳得橹

出版机构：中国标准出版社

标准分类：电化学、热化学、光学式分析仪器

ICS分类：有关化学分析方法的其他标准

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会

起草单位：北京科技大学

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准简介

本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体厚度的会聚束电子衍射方法。

替代情况

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