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MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法

Rapid screening test methods for Thermal sensitive parameter of MOS field effect transistor
标准号:SJ 20789-2000
基本信息
标准号:SJ 20789-2000
发布时间:2000-10-20
实施时间:2000-10-20
首发日期:
出版单位:工业电子出版社查看详情>
起草人:叶奇放、易本健、赵英等
出版机构:工业电子出版社