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粒度分析图像分析法第1部分：静态图像分析法现行

Particle size analysis - Image analysis methods - Part 1: Static image analysis method

标准号：GB/T 21649.1-2008

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基本信息

标准号：GB/T 21649.1-2008

发布时间：2008-04-16

实施时间：2008-10-01

首发日期：2008-04-16

出版单位：中国标准出版社查看详情>

起草人：周素红、邹涛、陈萦、卢庆新、郑毅、方建锋

出版机构：中国标准出版社

标准分类：筛分、筛板与筛网

ICS分类：粒度分析、筛分

提出单位：全国筛网筛分和颗粒分检方法标准化技术委员会

起草单位：北京市理化分析测试中心、北京钢铁研究总院

归口单位：全国筛网筛分和颗粒分检方法标准化技术委员会

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

主管部门：国家标准化管理委员会

标准简介

ＧＢ／Ｔ２１６４９《粒度分析　图像分析法》分为两个部分，本部分是ＧＢ／Ｔ２１６４９的第１部分。本标准规定了利用静态图像分析法测定颗粒粒度分布的方法。本部分适用于测定能够从显微镜中获得图像的颗粒的粒度分布。本部分修改采用ＩＳＯ１３３２２-１：２００４《粒度分析　图像分析法　第１部分：静态图像分析法》（英文版）。

标准摘要

GB/T21649《粒度分析图像分析法》分为以下两个部分:
---第1部分:静态图像分析法;
---第2部分:动态图像分析法。
本部分是GB/T21649的第1部分。
本部分修改采用ISO133221:2004《粒度分析图像分析法第1部分:静态图像分析法》(英文版)。
本部分与ISO133221比较,主要修改内容如下:
---在附录B中增加了两档放大倍率,使测量范围拓展到纳米级。
---4.2条制样方法的内容从正文移至附录F(资料性附录),并增加F.5支持膜法。
---对范围进行了修改。
---对术语、缩略语、定义与符号进行了修改。
---对公式(4)进行了修改:
Pi =
(Z1 -XF1)(Z2 -ZF2)
Z1Z2
---将ISO13322-16.3.6.1条中示例改写为检定过的标准格栅或粒度标准物质。
本部分相对于ISO13322-1:2004删除的内容如下:
---删除5.2条中内容重复的b)、c)、d)、h)。
---将一些适用于国际标准的表述改写为适用于我国标准的表述。
本部分的附录A、附录B、附录C 为规范性附录,附录D、附录E、附录F为资料性附录。
本部分由全国筛网筛分和颗粒分检方法标准化技术委员会(SAC/TC168)提出并归口。
本部分起草单位:北京市理化分析测试中心、钢铁研究总院。
本部分主要起草人:周素红、邹涛、陈萦、卢庆新、郑毅、方建锋。

标准目录

前言Ⅰ
引言Ⅱ
1 范围1
2 规范性引用文件1
3 术语、缩略语、定义与符号1
3.1 术语、缩略语与定义1
3.2 符号2
4 本方法要求的样品制备3
4.1 总的推荐方法3
4.2 制样方法4
5 图像采集4
5.1 总则4
5.2 步骤4
5.3 图像采集仪的操作条件4
6 显微镜和图像分析5
6.1 总则5
6.2 粒度分级和放大5
6.3 计数步骤5
7 粒度的计算结果8
8 试验报告9
附录A(规范性附录) 用于评估样品平均粒径所需的颗粒尺寸的研究10
附录B(规范性附录) 操作时的放大倍率23
附录C(规范性附录) 典型物镜的分辨率和粒度区间24
附录D(资料性附录) 典型图像分析法的流程图25
附录E(资料性附录) 平均值和方差的统计检验(方差分析和多样性比较) 26
附录F(资料性附录) 几种制样方法28
参考文献30

替代情况

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采标情况

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粒度分析 图像分析法 第1部分：静态图像分析法 现行

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