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高温超导薄膜微波表面电阻测试
高温超导薄膜微波表面电阻测试 废止
Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film
标准号：GB/T 22586-2008
基本信息
标准号：GB/T 22586-2008
发布时间：2008-12-15
实施时间：2009-05-01
首发日期：2008-12-15
出版单位：中国标准出版社查看详情>
起草人：罗正祥、刘宜平、李宏成、吉争鸣、郑东宁、许伟伟、张其劭、魏斌、曾成
作废日期：2018-10-01
出版机构：中国标准出版社
标准分类： 金属物理性能试验方法
ICS分类：金属材料的其他试验方法
提出单位：中国科学院
起草单位：电子科技大学、清华大学、南京大学等
归口单位：全国超导标准化技术委员会
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
主管部门：中国科学院
标准简介
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法。测试目标是在谐振频率下Rs随温度的变化。本标准适用于表面电阻的测试范围如下：———频率：８GHz＜f＜３０GHz———测试分辨率：0.01mΩ（f＝10GHz）
标准摘要
|
本标准等同采用ＩＥＣ６１７８８-７：２００６《电子性能测量 微波频率下超导体的表面电阻》（英文版），在技术内容上与该国际标准一致。为了便于使用，本标准做了下列编辑性修改： ａ）用“本标准”代替“本国际标准”。 ｂ）将“ＩＥＣ／ＴＣ９０引言”改为“引言”等有关内容。 ｃ）用小数点“．”代替作为小数的“，”。 本标准的附录Ａ 为资料性附录。 本标准由国家超导技术联合研究开发中心和全国超导标准化技术委员会提出。 本标准由全国超导标准化技术委员会归口。 本标准负责起草单位：电子科技大学。 本标准参加起草单位：清华大学、南京大学、中国科学院物理研究所。 本标准主要起草人：罗正祥、刘宜平、李宏成、吉争鸣、郑东宁、许伟伟、张其劭、魏斌、曾成。 |
标准目录
| 前言Ⅲ 引言Ⅳ １ 范围１ ２ 规范性引用文件１ ３ 术语和定义１ ４ 要求１ ５ 装置１ ５．１ 测试系统１ ５．２ 犚Ｓ 测试腔体２ ５．３ 介质柱２ ６ 测试步骤４ ６．１ 样品准备４ ６．２ 系统构建４ ６．３ 参考电平的测试４ ６．４ 谐振器频响特性的测试５ ６．５ 超导薄膜的表面电阻犚Ｓ、标准蓝宝石柱的ε′和ｔａｎδ 的确定６ ７ 测试方法的精密度和精确度７ ７．１ 表面电阻７ ７．２ 温度７ ７．３ 样品和支撑结构８ ７．４ 样品的保护８ ８ 测试报告８ ８．１ 被测样品的标识８ ８．２ Rs 值报告８ ８．３ 测试条件报告８ 附录Ａ （资料性附录） 与第１章～第８章相关的附加资料９ 参考文献１７ 图１ 使用制冷机测试犚Ｓ 随温度变化特性的装置图２ 图２ 典型的犚Ｓ 测试腔体示意图３ 图３ 犜（Ｋ）温度下的插入损耗犐犃、谐振频率犳０ 和半功率点带宽Δ犳５ 图４ 反射系数（犛１１和犛２２） ６ 图５ 表４中术语的定义７ 图Ａ．１ 各种测量微波表面电阻犚Ｓ 方法结构示意图９ 图Ａ．２ 两端由两片沉积在介质基片上的超导薄膜短路圆柱形介质谐振器的几何结构１１ 图Ａ．３ ＴＥ０１狆模式的狌?狏和犠?狏关系的计算结果１１ 图Ａ．４ 测量犚Ｓ、ｔａｎδ 的标准介质柱的电磁场结构１２ 图Ａ．５ 三种形式的谐振器的结构示意图１２ 图Ａ．６ 设计平行超导薄膜两端短路的ＴＥ０１１谐振器的模式图［２０］ １３ 图Ａ．７ 设计平行超导薄膜两端短路的ＴＥ０１３谐振器的模式图［２０］ １４ 图Ａ．８ 闭合式ＴＥ０１１谐振器的模式图１５ 图Ａ．９ 闭合式ＴＥ０１３谐振器的模式图１６ 表１ １２ＧＨｚ、１８ＧＨｚ、２２ＧＨｚ时标准蓝宝石介质柱的典型尺寸４ 表２ １２ＧＨｚ、１８ＧＨｚ、２２ＧＨｚ时超导薄膜的尺寸４ 表３ 矢量网络分析仪的参数７ 表４ 蓝宝石介质柱参数７ |
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